X射线成像系统

便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReO-WA-P

发布日期:2020-05-02

便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReOWA-P应用

航空、航天、电力、石化工业等的管道和平板的焊缝检测

AI、Fe、Ti、合金、塑料等成形缺陷检测:夹杂、气孔。。。

复合材料(皱纹、夹杂)的检测;

文物检测和可学实验(博物馆、实验室、综合大学等)

便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReOWA-P主要特点

便携

随时随地拍摄数字X射线图像:无论室内还是野外环境都可以简单方便地使用DeReOWA-P。

成像面积

成像面积可选:25x30cm或40x40cm

数字化

数字图像实时显示在电脑屏幕上,易于保存和读取;

高度智能化的MaestroNDT软件,简单易用,界面友好,

图像优化功能强大;

TIFF和JPG格式图像,自动保存原始底片,自动生成拍片报告;

无需胶片等耗材

图像质量

自动快速地平均降噪

WA-P4040(200um) 符合ISO17636-2标准

ClassA:穿透厚度4to12mmFe

ClassB:穿透厚度大于12mmFe;

WA-P2530(139um) 符合ISO17636-2标准

ClassA:穿透厚度2to8mmFe

ClassB:穿透厚度大于8mmFe;

行业高灵敏度

信噪比和对比度分辨率优于1% (EN462-1)标准

透视穿透力

可选:各γ射线源灵敏度可调

发射电压量程广

轻质复合材料和厚重工件都可以检测,适用性广。

可以承受高达15 MeV的光子能量

厚度薄,可以轻易在两个物体间放置平板探测器

时效性

即时摄像并快速获得的图像

适配性

除配套本公司产品外也使用其他厂家射线源或γ源

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