三目正置金相显微镜XJ-56C

产品概述

三目正置金相显微镜XJ-56C采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，可选配暗场装置和微分干涉装置，轻易实现暗场观察、DIC微分干涉观察等功能。导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件表面的金相组织结构与工件表面质量进行显微观察，主要用于零件，集成电路，包装材料等产品检测。总放大倍数：50X-600X

性能特点：

1、立柱高度可调，尤其适合不同高度的大工件金相组织级表面观察。

2、采用了当今较为先进的无限远光路设计，提供了优良的光学系统。

3、无限远长工作距平场物镜和大视野平场目镜，视场宽阔平坦清晰。

典型应用：

1、分析金属、矿相内部结构组织。

2、电子厂PCB板、芯片检验。

3、观察材料表面的某些特性， 如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性。